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長期耐腐蝕老化試驗平臺/評估老化腐蝕現(xiàn)象面對材料越來越小型輕量及高密度封裝，因結(jié)露、吸濕、電場環(huán)境等因素造成的絕緣不良現(xiàn)象暨離子遷移現(xiàn)象日益突出，長期電化學腐蝕平臺，可高的精度連續(xù)試驗，高效簡便評估因老化腐蝕現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關(guān)問題。

半導體封裝材料絕緣診斷測試儀，是一款高壓絕緣診斷儀器是基于電介質(zhì)介電響應(yīng)理論，集介電響應(yīng)測試與絕緣狀態(tài)評估及診斷一體的綜合絕緣分析系統(tǒng)。該儀器的測試頻率范圍為1mHz-1kHz，且在低頻范圍內(nèi)可以選用快速測試方式，在保證測試精度的前提下，大幅減少實驗室測量時的等待時間及現(xiàn)場測量的停電時間。 絕緣診斷測試儀/絕緣系統(tǒng)狀態(tài)評估與診斷

絕緣材料電阻/評價平臺測試設(shè)備運用平行板法設(shè)計原理測量。利用特殊的電阻測試系統(tǒng)，重復性與穩(wěn)定性好，提升了夾具的抗干擾能力，同時大大提高精確度,可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學性能研究等用途。